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Electron and Optical Microscopy

KeyLab Koordinatoren:

Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3200
E-Mail: hans-werner.schmidt@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Makromolekulare Chemie I

Prof. Dr. Josef Breu
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-2530
E-Mail: josef.breu@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Anorganische Chemie I

Prof. Dr. Jürgen Köhler
Optische Mikroskopie (OM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-4000
E-Mail: juergen.koehler@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl für Spektroskopie weicher Materie

Youtube-Kanal Blog Kontakt

KeyLab Wissenschaftler:

Dr. Markus Drechsler (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3188
E-Mail: markus.drechsler@uni-bayreuth.de

Optische Mikroskopie (OM)


Fluoreszenz- und Fluoreszenzlebensdauer-Mikroskop (FLIM) PicoQuant MicroTime 200

  • Kernelement: invertiertes Forschungsmikroskop der Fa. Olympus mit 4 Objektiven
  • Konfokaleinheit und piezogesteuerter Probentisch für tiefenaufgelöste Messungen
  • Anregungslichtquellen: 4 Diodenlaser bei 405, 485, 561 und 640 nm (gepulster und Dauerstrichbetrieb möglich)
  • Zwei schnelle Detektoren: ein APD-Modul mit Einzelphotonenempfindlichkeit (SPAD) und ein PMA-Hybriddetektor mit 45% Quantenausbeute für zeitaufgelöste Messungen
  • Fluoreszenz-Spektrometer mit thermoelektrisch gekühlter EMCCD-Kamera
  • Einzelmolekülempfindlichkeit
  • Software für Fluoreszenzlebensdauer-Abbildungen (FLIM), FLIM-FRET und Fluoreszenz-Korrelationsspektroskopie
  • Kontakt:
    lothar.kador@uni-bayreuth.de, werner.reichstein@uni-bayreuth.de


Standard Microscope Olympus BX 60

Optisches Mikroskop für Standard-Anwendungen; Beleuchtung mit polarisiertem Durch- und Auflicht



Korrelationsmikroskop Zeiss Axio Imager A2m

Exakte Bestimmung der Probenkoordinaten für detaillierte Untersuchungen in einem Elektronenmikroskop Zeiss Ultra Plus 55



Fluoreszenzmikroskop Leica DMR

Vielseitiges Fluoreszenzmikroskop mit Möglichkeit der Anregung und Detektion in mehreren Spektralbereichen; Spektrometer-Einheit



Invertiertes Polarisationsmikroskop Nikon Eclipse Ti-S

Invertiertes Polarisationsmikroskop mit Beleuchtung in Durch- und Auflicht; Amici-Bertrand-Linse für konoskopische Untersuchungen an Kristallen

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Mikroskope


JEOL JEM-2200FS (TEM I)

Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung (160kV, 200kV), Schottky Feldemissionskathode, magnetisches Incolumn Energiefilter vom Omega Typ, CMOS Kamera (Gatan OneView) mit Digital Micrograph Software



Zeiss CEM902 (TEM II)

Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung 50kV oder 80kV, thermische Wolframkathode, Incolumn Henry-Castaing Energiefilter, CCD Kamera (Gatan Orius) mit Digital Micrograph Software.



Zeiss / LEO EM922 Omega (TEM III)

Energiefilterndes Transmissionselektronenmikroskop (EFTEM), Hochspannung (120kV, 160kV, 200kV), thermische LaB6 Kathode, magnetisches Incolumn Energiefilter vom Omega Typ, CCD Kamera (Gatan Ultrascan 1000) mit Digital Micrograph Software



Präparation


Leica Ultramikrotom UC7+FC7

Ultramikrotom zur Herstellung dünner Schnitte fester Proben bei Raumtemperatur mithilfe von Glas- u. Diamantmessern. Bei Verwendung der Kryokammer können auch zuvor gefrierfixierte flüssige oder halbfeste Proben bei tiefen Temperaturen geschnitten werden.



Reichert-Jung Ultramikrotom E+FC4

Ultramikrotom zur Herstellung dünner Schnitte fester Proben bei Raumtemperatur mithilfe von Glas- u. Diamantmessern. Bei Verwendung der Kryokammer können auch zuvor gefrierfixierte flüssige oder halbfeste Proben bei tiefen Temperaturen geschnitten werden.




Jeol Cryo Ion Slicer



Gatan Solarus Model 950

Plasma Cleaner zum Entfernen von adsorbierten Kohlenwasserstoffen auf Proben- und TEM Halteroberflächen, Hydrophilisieren von Oberflächen.



Plasma Beglimmapparatur (Eigenbau – Biozentrum Basel)

Plasma Cleaner zum Entfernen von adsorbierten Kohlenwasserstoffen auf Probeoberflächen, Hydrophilisieren von Oberflächen



Bal-Tec Propanjet JFD030

Kryofixierungsanlage zum Einfrieren wässriger flüssiger und halbfester Proben mittels eines tiefgekühlten flüssigen Propanjets.



Kryofixierungsanlage (Eigenbau auf Zeiss Cryobox Basis)

Kryofixierungsanlage zum Einfrieren flüssiger wässriger Proben in flüssigem Ethan und von Proben in organischen Lösungsmitteln in flüssigem Stickstoff. Für Proben, die unter kontrollierten Umweltbedingungen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit) eingefroren werden sollen, kann eine Umweltkammer verwendet werden.



Leica Kryofixierungsanlage EMGP

Kryofixierungsanlage zum Einfrieren flüssiger wässriger Proben in flüssigem Ethan mit einstellbaren Umweltbedingungen (Temperatur, Luftfeuchtigkeit).



Bal-Tec Gefrierbruchanlage BAF400T

Bedampfungsanlage zur Herstellung von Pt oder Pt/Ir Schwermetallabdrücken (Replicae) innerer Oberflächen nach Gefrierbruch von zuvor gefrierfixierten flüssigen und halbfesten wässrigen Proben.



Bal-Tec Gefrierbruchanlage BAF060

Bedampfungsanlage zur Herstellung von Pt oder Pt/Ir Schwermetallabdrücken (Replicae) innerer Oberflächen nach Gefrierbruch von zuvor gefrierfixierten flüssigen und halbfesten wässrigen Proben.


Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Mikroskope

Zeiss Leo 1530 (REM I)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Inlens-SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhart Thornley), BSE-Detektor (Centaurus), Minicathodoluminiszenz-Detektor (Oxford) und UltraDry-EDX-Detektor (Thermo Fisher Scientific NS7).

Ausgerüstet für Elektronenstrahllithographie und korrelative Mikroskopie.


Zeiss Ultra plus (REM II)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit 80 mm Probenschleuse, Inlens SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhart Thornley), Inlens EsB-Detektor (energy-selectiv backscattered electrons), AsB-Detektor (angle selectiv backscattered electrons) und STEM-Detektor, sowie UltraDry-EDX-Detektor (30mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7) und Magna Ray WDX-Spektrometer (Thermo Fisher Scientific NS7).

Ausgerüstet mit Leica Cryopräparations-Transfereinheit VCT 100 und für korr. Mikroskopie.



FEI Quanta FEG 250 (REM III)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit ET-Detektor, CBS, ICD und  STEM für HighVakuum, sowie LFD, GAD und GSED für LowVakuum, ESEM- oder WET-STEM-Messungen. Außerdem UltraDry-EDX-Detektor (100mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7).



Präparation



Cressington Platin-Sputter Coater 208HR





Leica EM ACE 600 Kohlebedampfungsanlage



Leica MED 020 Cryo-Bruch- und Sputtereinheit





Leica EM HPM 100 Hochdrücker



Leica EM TXP Zielpräzisionsinstrument

Das KeyLab Electron and Optical Microscopy besteht aus drei Einheiten, der Rasterelektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Hans-Werner Schmidt), der Transmissionselektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Josef Breu) und der optischen Mikroskopie (Koordination: Prof. Jürgen Köhler).

Das KeyLab Electron and Optical Microscopy bündelt die wissenschaftliche Expertise aus komplementären Gebieten moderner Mikroskopietechniken. Für Struktur- und Morphologieuntersuchungen stehen mehrere hochauflösende Raster- und Transmissionselektronenmikroskope mit Cryo-Einheiten zur Verfügung. Daneben verfügt das Labor über verschiedene optische Mikroskope, z.B. für ortsaufgelöste Fluoreszenz-, Raman-Spektroskopie und Korrelative Mikroskopie. Modernste Methoden der Probenvorbereitung insbesondere für flüssige Proben, Gele und Polymere stehen zur Verfügung.


KeyLab Koordinatoren:

Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt (REM), Prof. Dr. Josef Breu (TEM), Prof. Dr. Jürgen Köhler (OM)

KeyLab Wissenschaftler:

Dr. Markus Drechsler (TEM)


KeyLab-Flyer:

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