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Electron and Optical Microscopy

KeyLab Koordinatoren:

Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt
Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3200
E-Mail: hans-werner.schmidt@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Makromolekulare Chemie I

Prof. Dr. Josef Breu
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-2530
E-Mail: josef.breu@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Anorganische Chemie I

Prof. Dr. Jürgen Köhler
Optische Mikroskopie (OM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-4000
E-Mail: juergen.koehler@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl für Experimentalphysik IV

Youtube-Kanal Blog Kontakt

KeyLab Wissenschaftler:

Dr. Markus Drechsler (TEM)
Telefon: +49 (0)921 / 55-3188
E-Mail: markus.drechsler@uni-bayreuth.de

Optische Mikroskopie (OM)


Standard Microscope Olympus BX 60

Optisches Mikroskop für Standard-Anwendungen; Beleuchtung mit polarisiertem Durch- und Auflicht



Korrelationsmikroskop Zeiss Axio Imager A2m

Exakte Bestimmung der Probenkoordinaten für detaillierte Untersuchungen in einem Elektronenmikroskop Zeiss Ultra Plus 55



Fluoreszenzmikroskop Leica DMR

Vielseitiges Fluoreszenzmikroskop mit Möglichkeit der Anregung und Detektion in mehreren Spektralbereichen; Spektrometer-Einheit




Kombiniertes Raman-Mikroskop / AFM WITecAlpha 300 RA

High-End-Gerät für kombinierte ortsaufgelöste Raman-Untersuchungen und AFM-Messungen



Invertiertes Polarisationsmikroskop Nikon Eclipse Ti-S

Invertiertes Polarisationsmikroskop mit Beleuchtung in Durch- und Auflicht; Amici-Bertrand-Linse für konoskopische Untersuchungen an Kristallen

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

Mikroskope



JEOL JEM-2200FS (TEM I)

200kV EFTEM mit Schottky FEG und In-Column Omega Energiefilter




Zeiss CEM902 (TEM II)

80kV EFTEM mit Wolfram Kathode und In-Column Castaing Energiefilter




Zeiss / LEO EM922 Omega (TEM III)

200kV EFTEM mit LaB6 Kathode und In-Column Omega Energiefilter



Präparation


Ultramicrotome (Leica UC7) Room Temperature

For TEM examinations semi- and ultra-thin sections of samples are produced with the Leica EM UC7 ultramicrotome at room temperature. Furthermore smooth sample surfaces are created required for LM, SEM, and AFM experiments.



Ultramicrotome (Reichert - Jung Ultracut E) Room Temperature

For TEM examinations semi- and ultra-thin sections of samples are produced with the Reichert - Jung (now Leica Microsystems) Ultracut E ultramicrotome at room temperature. Furthermore smooth sample surfaces are created required for LM, SEM, and AFM experiments.




Jeol Cryo Ion Slicer




Plasma Cleaner (Gatan Solarus 950) Room Temperature




Glow Discharge Unit Room Temperature




Propane-Jet (Bal-Tec JFD030) Low Temperature




Plunge Freezer (Zeiss Cryo-Box) Low Temperature




Plunge Freezer (Homemade with environmental chamber) Low Temperature




Plunge Freezer (Leica EM GP) Low Temperature




Freeze-Etching Device (Bal-Tec BAF400T) Low Temperature




Freeze-Etching Device (Bal-Tec BAF060) Low Temperature




Cryoultramicrotome (Leica UC7+FC7) Low Temperature




Cryoultramicrotome (Reichert - Jung Ultracut E + FC4) Low Temperature


Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Mikroskope

Zeiss Leo 1530 (REM I)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit Inlens-SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhardt Thornley), BSE-Detektor (Centaurus), Minicathodoluminiszenz-Detektor (Oxford) und UltraDry-EDX-Detektor (Thermo Fisher Scientific NS7).

Ausgerüstet für Elektronenstrahllithographie und korrelative Mikroskopie.


Zeiss Ultra plus (REM II)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit 80 mm Probenschleuse, Inlens SE-Detektor, Kammer-SE-Detektor (Everhardt Thornley), Inlens EsB-Detektor (energy-selectiv backscattered electrons), AsB-Detektor (angle selectiv backscattered electrons) und STEM-Detektor, sowie UltraDry-EDX-Detektor (30mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7) und Magna Ray WDX-Spektrometer (Thermo Fisher Scientific NS7).

Ausgerüstet mit Leica Cryopräparations-Transfereinheit VCT 100 und für korr. Mikroskopie.



FEI Quanta FEG 250 (REM III)

Hochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit ET-Detektor, CBS, ICD und  STEM für HighVakuum, sowie LFD, GAD und GSED für LowVakuum, ESEM- oder WET-STEM-Messungen. Außerdem UltraDry-EDX-Detektor (100mm²) (Thermo Fisher Scientific NS7).



Präparation



Cressington Platin-Sputter Coater 208HR





Leica EM ACE 600 Kohlebedampfungsanlage



Leica EM HPM 100 Hochdrücker





Leica MED 020 Cryo-Bruch- und Sputtereinheit



Leica EM TXP Zielpräzisionsinstrument

Das KeyLab Electron and Optical Microscopy besteht aus drei Einheiten, der Rasterelektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Hans-Werner Schmidt), der Transmissionselektronenmikroskopie (Koordination: Prof. Josef Breu) und der optischen Mikroskopie (Koordination: Prof. Jürgen Köhler).

Das KeyLab Electron and Optical Microscopy bündelt die wissenschaftliche Expertise aus komplementären Gebieten moderner Mikroskopietechniken. Für Struktur- und Morphologieuntersuchungen stehen mehrere hochauflösende Raster- und Transmissionselektronenmikroskope mit Cryo-Einheiten zur Verfügung. Daneben verfügt das Labor über verschiedene optische Mikroskope, z.B. für ortsaufgelöste Fluoreszenz-, Raman-Spektroskopie und Korrelative Mikroskopie. Modernste Methoden der Probenvorbereitung insbesondere für flüssige Proben, Gele und Polymere stehen zur Verfügung.


KeyLab Koordinatoren:

Prof. Dr. Hans-Werner Schmidt (REM), Prof. Dr. Josef Breu (TEM), Prof. Dr. Jürgen Köhler (OM)

KeyLab Wissenschaftler:

Dr. Markus Drechsler (TEM)


KeyLab-Flyer:

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