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Surface and Interface Characterization

KeyLab Koordinator:

Prof. Dr. Georg Papastavrou
Telefon: +49 (0)921 / 55-2750
E-Mail: georg.papastavrou@uni-bayreuth.de
Homepage: Lehrstuhl Physikalische Chemie II


Rasterkraftmikroskop ICON Dimension (Bruker)

Dieses Rasterkraftmikroskop dient zur Bestimmung der Oberflächentopographie von Proben auf der Nanometerskala. Im PeakForce Mode können insbesondere auch mechanische und adhäsive Eigenschaften lateral aufgelöst werden und (semi-)quantitative gemessen werden.


Rasterkraftmikroskop ICON Dimension für elektrische, elektrochemische und thermische Analysen (Bruker)

Dieses Rasterkraftmikroskop (Bruker) ist zusätzlich mit verschiedenen Module für die Bestimmung von elektrischen (beispielsweise lokale Leitfähigkeit, Oberflächenpotential) und thermische Eigenschaften zu bestimmen. Weiterhin können auch lokale elektrochemische Untersuchungen (Scanning Electrochemical Microscopy, SECM) durchgeführt werden.



Flex-ANA zur automatisierten nano-mechanischen Analyse von weichen Proben

Dieses System (Nanosurf) dient zur automatischen Analyse der mechanischen Eigenschaften von weichen Proben wie Hydrogelen oder Polymeren. Es können automatisch mehrere Bereiche auf cm-großen Proben gemessen werden.

Das KeyLab Surface and Interface Characterization verwendet verschiedene Techniken um quantitative Aussagen über die Grenzflächeneigenschaften von anorganischen, polymeren oder Kompositmaterialien zu treffen.

Insbesondere ist das Labor spezialisiert im Bereich von Rastersondenmethoden. Diese erlauben es nicht nur die Oberflächentopographie zu bestimmen, sondern auch Ladungsverteilungen, mechanische oder Reibungscharakteristika sowie adhäsive oder elektrische Eigenschaften zu messen. Hierbei kann die Probenumgebung in-situ in Bezug auf das Medium, Temperatur, Luftfeuchtigkeit oder elektro-chemisches Potential verändert werden.


KeyLab Koordinator:

Prof. Dr. Georg Papastavrou


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